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用于晶圆的极向克尔效应测量系统 BH-810CPC25 筱晓光子
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用于晶圆的极向克尔效应测量系统 BH-810CPC25 筱晓光子

产品标签  | 筱晓光子 显微镜 显微成像

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用于晶圆的极向克尔效应测量系统 BH-810CPC25 筱晓光子

热辅助磁记录介质的非接触HAMR/TAMR评估系统

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    • 地   址：
      上海 上海 青浦区 佳杰路99号长三角漕河泾绿洲智谷A5栋三楼
    详细信息
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    加工定制：是品牌：Microphotons型号：BH-810CPC25
    种类：显微镜输出波长：见参数表nm

    总览


    用于磁性半导体的 8 英寸或 12 英寸晶圆目标映射测量的非接触式评估系统。

    用于晶圆的极向克尔效应测量系统 BH-810CPC25,用于晶圆的极向克尔效应测量系统 BH-810CPC25



    通用参数


    光源二极管激光器（408nm 或 650nm）
    测量克尔效应极向克尔效应
    激光光斑直径<φ1mm
    磁场平面外方向：Max. >±20kOe (±2T)
    晶圆尺寸8 英寸或 12 英寸晶圆


    测量示例



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